每日经济新闻
首发快讯

每经网首页 > 首发快讯 > 正文

精智达:DRAM晶圆老化测试设备进入验证阶段

2023-09-13 11:03:08

每经AI快讯,精智达在投资者互动平台表示,目前公司DRAM晶圆老化测试设备,已完成技术开发和测试等工作,进入验证阶段;DRAM测试机仍处于持续研发测试阶段。

责编 姚祥云

特别提醒:如果我们使用了您的图片,请作者与本站联系索取稿酬。如您不希望作品出现在本站,可联系我们要求撤下您的作品。

欢迎关注每日经济新闻APP

每经经济新闻官方APP

0

0